세계 최고의 테스트, 측정, 모니터링 장비 공급업체인 텍트로닉스는 키슬리 S530 파라미터 테스트 시스템의 측정 속도를 최대 25%까지 단축할 수 있는 주요 시스템 소프트웨어 업데이트(KTE 버전 5.6)를 출시 한다고 발표했다.

이는 반도체 생산 및 연구 개발 부서에 있어 웨이퍼 수준의 테스트 처리 성능 향상을 의미하며 S530의 COO(소유 비용)를 직접적으로 개선하는 효과가 있다.

생산 비용 절감과 수율 향상은 진화하는 재료 및 소자 구조에 대응해야 하는 반도체 생산업체의 핵심 목표이다. 인라인 파라미터 테스트 처리 성능과 전반적인 COO는 반도체 웨이퍼에서 필요한 모든 측정을 완료하는 데 소요되는 시간과 직접적인 관계가 있다. 이번에 새로 발표된 인기 높은 S530용 KTE(키슬리 테스트 환경) 소프트웨어는 테스트 성능의 획기적인 향상을 통해 이러한 요구에 대응한다.

텍트로닉스의 키슬리 제품군 총책임자인 마이크 플래어티(Mike Flaherty)는 “최신 IC 소자 생산 및 테스트와 관련하여 가장 중요한 것은 소유 비용을 절감하는 일”이라며 “텍트로닉스는 이번 최신 릴리스를 통해 인라인 웨이퍼 테스트 처리 성능을 높일 수 있도록 최고의 COO와 측정 시간 단축을 제공하는 파라미터 테스트 시스템을 실현했다. 이를 통해 고객들은 빠르게 변화하는 업계에서 경영수지를 개선하고 경쟁력을 유지할 수 있을 것”이라고 말했다.

S530의 소프트웨어 업그레이드에는 저전류 측정과 관련된 설정 시간을 줄여주는 시스템 SMU의 기능 향상도 포함되어 있다. 더 빠른 전류 측정은 전반적인 시스템 측정 속도 향상으로 이어진다. 또한 새로운 시스템 측정 설정과 능률화된 소프트웨어 실행으로 시스템 속도가 한층 더 향상된다. 이 업그레이드에는 더 빠른 저전압 및 저저항 측정이 가능하도록 텍트로닉스의 최신 키슬리 DMM(디지털 멀티미터)도 통합되었다.

◇S530 적용 분야
S530 시스템은 일반적으로 광범위한 제품 조합이 필요하거나 폭넓은 적용 유연성 및 빠른 테스트 계획 개발이 필수적인 경우에 생산 파라미터 테스트 환경에서 사용하도록 최적화되었다. 키슬리는 표준 CMOS, 바이폴라, MEMS, 기타 비교적 저전압의 반도체 공정에 일반적으로 사용되는 200V 시스템과 더불어, GaN, SiC, Si LDMOS 전력 소자에 필요한 까다로운 파손 및 누설 테스트에 최적화된 특별한 1kV 버전도 제공한다.

◇공급 상황
KTE 버전 5.6과 새로운 시스템 DMM은 2015년 10월부터 S530과 함께 전세계에 출고될 예정이다.

한국텍트로닉스 소개
텍트로닉스는 통신, 컴퓨터, 반도체, 소비자 전자 제품 산업에 테스트 및 측정 솔루션을 제공하는 세계적인 계측기 공급 업체로서, 1946년 오실로스코프를 시작으로 로직 애널라이저, 신호발생기, 스펙트럼 분석기, 각종 통신 및 비디오 테스트 장비계측 장비를 비롯해, 약 1,000 여종의 모든 산업용 계측 장비를 생산하고 있다. 또한, 디지털 RF, 직렬 버스, 임베디드 시스템 설계 등을 다루는 고객들이 차세대 제품을 개발하고 더 우수한 품질의 제품을 설계할 수 있도록 측정, 테스트 솔루션을 제공한다. 텍트로닉스는 미국 오리건 주 비버튼에 본사를 두고 19개국에 지사를 두고 있으며, 미국을 비롯 이탈리아, 네덜란드, 독일, 일본, 중국 등에 생산 공장을 보유하고 있다. 한국텍트로닉스는 전국 8개의 공식 대리점을 갖추고 있으며, 텍트로닉스의 제품과 애플리케이션 등에 대한 자세한 내용은 www.tektronix.co.kr 홈페이지와 자사 운영 불러그

출처: 한국텍트로닉스

[대한민국 최초 공직언론사- 공무원뉴스,공무원뉴스,공무원뉴스,공무원뉴스,공무원뉴스]

장지연 기자  jjan2252@naver.com

<저작권자 © 공무원뉴스, 무단 전재 및 재배포 금지>